基本信息
| 标准名称： | 半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
| 替代情况： | 被GB/T 6798-1996代替 调整为SJ/T 10805-1996 |
| 发布日期： | 1900-01-01 |
| 实施日期： | 1987-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 21页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
【英文标准名称】:Vitreousandporcelainenamels-Determinationoffluiditybehaviour-Fusionflowtest(ISO4534:2010);GermanversionENISO4534:2010
【原文标准名称】:釉瓷和搪瓷.流动性的测定.熔化液流试验(ISO4534-2010);德文版本ENISO4534-2010
【标准号】:ENISO4534-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2011-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Coatings;Comparisonmethods;Enamels;Flowproperties;Fusionflowtest;Inorganic;Materialstesting;Metallic;Plasticdeformation;Properties;Testequipment;Testresults;Testspecimens;Testing;Viscosity;Viscositymeasurement;Vitreousenamel
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:25_220_50
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语